低温的接连环境下所能忍耐的程度得以在极短的时刻内检测验样因热胀冷缩所引起的物理改变验证元器件的温变适应能力，用高低温冲击实验箱模仿空间温变场景，经过测验可把握元器件在温变循环中的功能改变与失效形式，为选型、优化规划供给数据支撑，保证卫星牢靠运转。

　　样品预处理：清洁元器件外表，防止污染物搅扰热传导，一起记载初始状态参数，如电气功能、外观描摹等。

　　实验箱参数设置：依据卫星元器件的运用环境和有关规范要求，设置适宜的参数。例如，高温区可设定为125℃，低温区设定为- 55℃，温度转化时刻≤5分钟，循环次数可依据详细需求确认，如卫星焊点的测验循环次数一般不少于50次。此外，还需将温度均匀性操控在±2℃以内，保证测验一致性。

　　样品装置与监测：在卫星元器件的PCB板上安置热电偶，要点监测焊接点，热电偶距离≤5mm，以便实时监测温度改变。

　　快速温冲循环阶段：进行低温冲击时，需在30秒内降温至- 55℃并驻留30分钟；进行高温冲击时，需在60秒内升温至+ 125℃并驻留30分钟。

　　循环操控：每循环距离≤5分钟转化时刻，一起需记载实践转化速率。在整个实验过程中，要对资料形变量、焊点疲惫、电气功能等要害参数进行实时监测。

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